video
Thử nghiệm độ dày lớp phủ 980 XRF

Thử nghiệm độ dày lớp phủ 980 XRF

Máy phân tích độ dày lớp phủ NAPCO Mark 980 thế hệ công ty có độ phân giải cao Si-Pin (hoặc SDD Silicon Drift Det) đạt được độ chính xác và độ ổn định của bạn Nhu cầu .

Giơi thiệu sản phẩm

Đo độ dày lớp phủ đóng một vai trò quan trọng trong quá trình xử lý bề mặt của ngành công nghiệp chế tạo và là một phương pháp cần thiết để đảm bảo rằng sản phẩm đạt được chất lượng tuyệt vời . Si-Pin (hoặc máy dò Drift Silicon SDD) để đạt được độ chính xác và độ ổn định đo lường tuyệt vời . cho dù đó là kiểm soát chất lượng của độ dày lớp phủ trong quá trình sản xuất hoặc kiểm tra chất lượng ngẫu nhiên và kiểm tra hoàn toàn để kiểm tra vật liệu đến, Mark 980 có thể đáp ứng nhu cầu kiểm tra của bạn .

 

Tại sao Mark 980 Phân tích lớp phủ là một lựa chọn tốt
Chúng tôi cung cấp một dịch vụ toàn diện

 

Ngoài các sản phẩm thông thường mà chúng tôi đã sản xuất .

Nhanh chóng và dễ sử dụng

Nó có thể nhận ra tốc độ phát hiện cấp hai của độ dày lớp phủ và phân tích thành phần, và kích thước nhỏ và di động

Độ chính xác cao

Nguồn X-quang thu nhỏ đóng gói gốm và máy dò bán dẫn hiệu suất cao được sử dụng để cải thiện hiệu quả độ chính xác của thử nghiệm

Hoạt động đơn giản

Được trang bị màn hình cảm ứng lớn, độ nét cao, giao diện người dùng trực quan và hầu như không cần đào tạo

Kiểm soát thông minh

Kiểm soát thông minh hoàn toàn tự động, có thể nhận ra phép đo One-Button

Một máy cho nhiều mục đích

Nó có thể nhanh chóng phân tích độ dày và thành phần của lớp phủ khi thành phần của lớp phủ chưa được biết và dễ dàng nhận ra tiêu chuẩn hóa phân tích lớp phủ cho lớp phủ tiêu chuẩn

Gồ ghề và bền

IP54 tuân thủ, chống thấm nước và chống rung, có thể hoạt động trong môi trường khắc nghiệt

Ứng dụng

 

Nó được sử dụng rộng rãi cho phép đo độ dày của lớp phủ kim loại, như ngành công nghiệp mạ kim loại, hợp kim và ngành kim loại quý, cũng như ngành công nghiệp điện tử, các thành phần điện tử, chất bán dẫn, PCB, bộ phận tự động, bộ phận điện quang, bộ phận trang trí, đầu nối và đo độ dày bề mặt khác {{0}

product-200-200

Sự chính xác

Phân tích độ chính xác của kim loại và đồ trang sức quý giá tốt hơn 0,01%

product-201-200

Tốc độ

Toàn bộ quá trình đo lường chỉ mất vài giây

product-200-200

Sự ổn định

Mark 980 cung cấp khả năng tái tạo thời gian dài của phân tích mà không cần hiệu chỉnh lại hệ thống

Những lợi ích

1

Tốc độ và độ chính xác cao

2

Giao diện trực quan

3

Hoạt động tự trị cũng như được kết nối với PC

4

Nhỏ gọn, không chiếm nhiều không gian trên bàn hoặc quầy

5

Thiết kế công thái học trông rất đẹp trong một cửa hàng trang sức

6

Hiển thị khách hàng - Thành phần hóa học có thể được khách hàng nhìn thấy trong quá trình đo lường

7

Bảo vệ bức xạ

8

Bảo vệ điện áp cao

9

Bảo vệ ống tia X quá nhiệt

10

Bo mạch chủ công nghiệp sẵn có & cảm ứng tay nhiều điểm

11

FCC, CE, ROHS được phê duyệt

12

Thử nghiệm các mẫu trang sức và kim loại có kích thước, hình dạng hoặc trọng lượng

Phân tích huỳnh quang tia X vượt qua phần còn lại của các phương pháp phân tích về tốc độ, độ chính xác và đơn giản

 

Đề xuất người dùng

 

product-640-360

Cửa hàng trang sức

product-640-360

Nhà sản xuất trang sức

product-640-360

Nhà máy lọc kim loại quý

product-640-360

Cửa hàng cầm đồ

product-640-360

Ngân hàng

product-640-360

Phòng thí nghiệm

product-640-360

Trường đại học

product-640-360

Văn phòng kiểm tra chất lượng

product-640-360

Về cơ bản, bất kỳ nơi nào liên quan đến vàng

Ưu điểm của Mark 980
1

Nhanh chóng và dễ sử dụng:Nó có thể nhận ra tốc độ phát hiện cấp hai của độ dày lớp phủ và phân tích thành phần, và kích thước nhỏ và di động

2

Độ chính xác cao:Một nguồn tia X thu nhỏ được đóng gói gốm và máy dò bán dẫn hiệu suất cao được sử dụng để cải thiện hiệu quả độ chính xác của thử nghiệm

3

Hoạt động đơn giản:Được trang bị màn hình cảm ứng lớn, độ phân giải cao, giao diện người dùng trực quan và hầu như không cần đào tạo

4

Kiểm soát thông minh:Kiểm soát thông minh hoàn toàn tự động, có thể nhận ra phép đo One-Button

5

Phân tích đa năng:Nó có thể nhanh chóng phân tích độ dày và thành phần của lớp phủ khi thành phần của lớp phủ không rõ

 

 

Các ứng dụng điển hình

 

Các máy phân tích độ dày của tia sáng màu huỳnh quang (XRF) là các thiết bị chuyên dụng được sử dụng để đo độ dày của lớp phủ trên các chất nền khác nhau . Các dụng cụ này sử dụng công nghệ XRF để xác định thành phần nguyên tố Máy phân tích:

Kiểm tra sơn và bột

Máy phân tích cầm tay XRF được sử dụng rộng rãi trong các ngành công nghiệp như ô tô, hàng không vũ trụ và sản xuất để đo độ dày của sơn, lớp phủ bột và các phương pháp xử lý bề mặt khác trên chất nền kim loại .

Quá trình mạ và anod hóa

Trong các quá trình mạ điện và anod hóa, các máy phân tích cầm tay XRF được sử dụng để theo dõi độ dày của lớp phủ kim loại lắng đọng trên chất nền . bằng cách đo độ dày của các lớp phủ như Chrome, niken hoặc kẽm, nhà sản xuất có thể đảm bảo chất lượng sản phẩm và tuân thủ các tiêu chuẩn công nghiệp {{1

Bảo vệ và bảo trì ăn mòn

Các máy phân tích cầm tay XRF được sử dụng để bảo vệ và bảo trì ăn mòn trong các ngành công nghiệp như dầu khí, biển và cơ sở hạ tầng . bằng cách đo độ dày của lớp phủ bảo vệ trên các cấu trúc kim loại như đường ống, bể chứa, và các hoạt động bảo trì

Tái chế kim loại và phân loại phế liệu

Máy phân tích cầm tay XRF đóng một vai trò quan trọng trong các cơ sở tái chế kim loại bằng cách đo chính xác độ dày của lớp phủ trên kim loại phế liệu . Thông tin này giúp các thiết bị tái chế và phân loại vật liệu phế liệu dựa trên độ dày lớp phủ của chúng, cho phép các quá trình tái chế hiệu quả và đảm bảo chất lượng phù hợp {

Kiểm soát chất lượng trong sản xuất

Máy phân tích cầm tay XRF được sử dụng cho mục đích kiểm soát chất lượng trong các ngành sản xuất để đảm bảo tính đồng nhất và tính nhất quán của lớp phủ được áp dụng cho các sản phẩm . bằng cách đo độ dày lớp phủ trên hàng hóa hoặc các thành phần, nhà sản xuất có thể xác minh sự tuân thủ với thông số kỹ thuật và tiêu chuẩn {{1}

Thử nghiệm không phá hủy (NDT)

Các máy phân tích cầm tay XRF cung cấp một phương pháp không phá hủy để đo độ dày lớp phủ, loại bỏ nhu cầu lấy mẫu hoặc thử nghiệm phá hủy . Điều này làm cho chúng phù hợp để kiểm tra tại chỗ và các ứng dụng hiện trường khi các phép đo nhanh chóng và chính xác được yêu cầu .}}

 

Nhìn chung, các máy phân tích độ dày của lớp phủ tay XRF tìm thấy các ứng dụng đa dạng trong các ngành công nghiệp nơi đo lường độ dày của lớp phủ chính xác và không phá hủy là rất cần thiết để đảm bảo chất lượng, bảo trì và tuân thủ quy định .}}}}}}}}}}}}}

 

 
Mác 980 Thông số kỹ thuật
Máy dò

Máy dò SI-PIN hiệu suất cao /Máy dò SDD được tối ưu hóa

Lọc Bộ thay đổi bộ lọc tự động đa vị trí
Cửa sổ Kapton với thiết kế cửa sổ chống chày tùy chọn
Đối chiếu Collimator 5 mm
Ắc quy Pin Li-ion 7.2V, 6800mah
Trưng bày Màn hình màu cảm ứng điện dung
Lưu trữ dữ liệu 100000+ Lưu trữ dữ liệu
Chuyển dữ liệu WiFi, USB
An toàn bức xạ Thiết bị bảo vệ an toàn, tắt ống trong khi không có mẫu, bảo mật người dùng được bảo vệ bằng mật khẩu
Camera (tùy chọn) Camera CCD tích hợp với ống kính lấy nét tự động để định vị và ghi vị trí điểm đo
Độ dày Nói chung trong vòng 50um (tùy thuộc vào vật liệu) độ lặp lại lên tới 0,1%
Nhiệt độ môi trường {{0}} độ -50 độ ẩm 0%-80%
Cân nặng Xấp xỉ . 1.5 kg (3,3 lbs) bao gồm cả pin
Kích thước L X W X H: 220 mm*91 mm*276 mm
Ngôn ngữ phần mềm Tiếng Anh và các ngôn ngữ khác

 

 

Chú phổ biến: Mark 980 XRF Lớp phủ Kiểm tra độ dày, Trung Quốc Mark 980 XRF Lớp phủ Lớp phủ Các nhà sản xuất, nhà cung cấp, nhà máy

Gửi yêu cầu

whatsapp

Điện thoại

Thư điện tử

Yêu cầu thông tin

túi